一、雷達物位計原理

　　雷達物位天線(xiàn)發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線(xiàn)向下傳輸。微波接觸到被測介質(zhì)表面后被反射回來(lái)再次被天線(xiàn)系統接收，將信號傳輸給電子線(xiàn)路部分自動(dòng)轉換成物位信號(因為微波傳播速度極快，電磁波到達目標并經(jīng)反射返回接收器這一來(lái)回所用的時(shí)間幾乎是瞬間的)。

　　二、雷達物位計參數

　　應 用：固體料、強粉塵、易結晶、 結露場(chǎng)合

　　測量范圍：30米

　　過(guò)程連接：萬(wàn)向法蘭

　　介質(zhì)溫度：-40～250℃

　　過(guò)程壓力：-0.1～0.1MPa

　　精 度：±15mm

　　防護等級：IP67

　　頻率范圍：26GHz

　　防爆等級：Exia ⅡC T6 Ga/Exd ia IIC T6 Gb

　　信號輸出：4...20mA/HART(兩線(xiàn)/四線(xiàn))，RS485/Mod bus

　　三、產(chǎn)品特點(diǎn)

　　天線(xiàn)尺寸小，便于安裝;非接觸雷達，無(wú)磨損，無(wú)污染。

　　幾乎不受腐蝕、泡沫影響;幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。

　　嚴重粉塵環(huán)境對高頻物位計工作影響不大。

　　波長(cháng)更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射。

　　波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時(shí)又有利于避開(kāi)干擾物。

　　測量盲區更小，對于小罐測量也會(huì )取得良好的效果。

　　高信噪比，即使在波動(dòng)的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。

　　高頻率，是測量固體和低介電常數介質(zhì)的佳選擇。